لقد تمت الاضافة بنجاح
تعديل العربة إتمام عملية الشراء
×
كتب ورقية
كتب الكترونية
كتب صوتية
English Books
أطفال وناشئة
وسائل تعليمية
متجر الهدايا
شحن مجاني
اشتراكات
بحث متقدم
نيل وفرات
حسابك لائحة الأمنيات عربة التسوق نشرة الإصدارات
0

Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods


Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
99.00$
الكمية:
شحن مخفض
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
تاريخ النشر: 16/12/2012
الناشر: Springer
النوع: ورقي غلاف عادي
لغة: إنكليزي
طبعة: 1
حجم: 18×25
عدد الصفحات: 616
مجلدات: 1
ردمك: 9781475711288
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods

تاريخ النشر: 16/12/2012
الناشر: Springer
النوع: ورقي غلاف عادي
لغة: إنكليزي
طبعة: 1
حجم: 18×25
عدد الصفحات: 616
مجلدات: 1
ردمك: 9781475711288
99.00$
الكمية:
شحن مخفض
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods

  • الزبائن الذين اشتروا هذا البند اشتروا أيضاً
  • الزبائن الذين شاهدوا هذا البند شاهدوا أيضاً

أبرز التعليقات
أكتب تعليقاتك وشارك أراءك مع الأخرين.